CCSEM技术是一种基于单颗粒逐个分析的先进测试手段,它不仅能获得样品中所有矿物的平均组成信息,还能得到单个矿物的组成、种类、粒径分布、形态及空间分布等信息。该技术测试颗粒数在数千个以上,分析结果具有统计规律,被认为是进行矿物分析的最有效手段。 主要附件:EDAX能谱仪,背散射探头,低真空模式探头,环扫模式探头,高温操作台,冷台
技术参数:
低真空模式 3.0nm at 30kV, 12nm at 3kV ;背散射电子像 4.0nm at 30kV
加速电压200V ,可连续调节
热台:操作温度最高为
1000℃
能谱能量分辨率130eV,束斑影响区1μm环境扫描电镜)可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种导电、非导电及活体样品进行观察和分析。
<span " style="font-size:9.0pt;font-family:仿宋_GB2312">可获得所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观元素分析。
环境扫描模式可检测活体的、湿的样品。可安装低温冷台、加热台等进行样品的动态观察和分析。 |