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Computer controlled scanning electron microscope(CCSEM)

Date:2017-10-09Source:
仪器型号: Quanta 200
生产厂家: 荷兰FEI公司
原理及主要技术指标:
主要性能指标:

CCSEM技术是一种基于单颗粒逐个分析的先进测试手段,它不仅能获得样品中所有矿物的平均组成信息,还能得到单个矿物的组成、种类、粒径分布、形态及空间分布等信息。该技术测试颗粒数在数千个以上,分析结果具有统计规律,被认为是进行矿物分析的最有效手段。

主要附件EDAX能谱仪,背散射探头,低真空模式探头,环扫模式探头,高温操作台,冷台      

技术参数:      

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  • 低真空模式 3.0nm at 30kV, 12nm at 3kV ;背散射电子像 4.0nm at 30kV

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  • 加速电压200V ,可连续调节        

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  • 热台:操作温度最高为

    1000℃      

    能谱能量分辨率130eV,束斑影响区1μm环境扫描电镜)可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种导电、非导电及活体样品进行观察和分析。        

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  • <span " style="font-size:9.0pt;font-family:仿宋_GB2312">可获得所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观元素分析。        

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环境扫描模式可检测活体的、湿的样品。可安装低温冷台、加热台等进行样品的动态观察和分析。

 

主要用途:

煤等材料表面微观形貌观察及成分分析。
注:华中科技大学煤燃烧国家重点实验室通过国际合作建成了国内首台CCSEM系统,该自建成之后,CCSEM被广泛用于完成国家 973” 863” 、科技支撑计划、自然科学基金等项目,在完善矿物分析方法、灰颗粒生成理论及构建灰沉积模型等方面作出了突出贡献,极大地促进了煤燃烧国家重点实验室科学研究及相关技术的发展。

研究内容:

 

设备名称 规格
详细介绍 技术参数
操作方法 注意事项

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